是否进口:否 | 产地:广东深圳 | 加工定制:否 |
类型:IGBT测试仪 | 品牌:华科智源 | 型号:HUSTEC-5000 |
测量频率:50Hz | 测量精度:±1% | 适用范围:igbt mos bjt |
重量:30kg | 尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)cmmm | 是否跨境货源:否 |
技术指标 | |||||
主极参数 | 控制极参数 | ||||
指标 | 标配 | 指标 | 标配 | ||
②主极电压: | 1mV-2000V | ①控制极电压: | 100mV-20V | ||
②电压分辨率: | 1mV | ②电压分辨率: | 1mV | ||
③主极电流: | 0.1nA-100A | 可扩展1250A | ③控制极电流: | 100nA-10A | |
④电流分辨率: | 0.1nA | ||||
⑤测试精度: | 0.2%+2LSB | ||||
⑥测试速度: | 0.5mS/参数 |
1.3 HUSTEC-5000测试系统是一套高速多用途半导体分立器件智能测试系统,它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,可真实准确测试下列各种大、中、小功率的半导体分立器件。
测试范围 / 测试参数 | ||
测试器件 | 测试参数 | |
绝缘栅双***功率晶体管 IGBT | ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON; VGEON;VF;GFS | |
MOS场效应管 MOS-FET | IDSS;IDSV;IGSSF; IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS; VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS | |
J型场效应管 J-FET | IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON; IDSS;GFS;VGSOFF | |
二极管 DIODE | IR;BVR ;VF | |
晶体管 (NPN型/PNP型) | ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO; BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF | |
双向可控硅 TRIAC | VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH- | |
可控硅 SCR | IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM; IGT;VGT;IL;IH | |
硅触发可控硅 STS | IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ; VPK-;VGSW+;VGSW- | |
达林顿阵列 DARLINTON | ICBO; ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO; BVCER;BVCEE;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ; VCESAT; VBESAT;VBEON | |
光电耦合 OPTO-COUPLER | ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO; CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode) | |
继电器 RELAY | RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME | |
稳压、齐纳二极管 ZENER | IR;BVZ;VF;ZZ | |
三端稳压器 REGULATOR | Vout;Iin; | |
光电开关 OPTO-SWITCH | ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF | |
光电逻辑 OPTO-LOGIC | IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF | |
金属氧化物压变电阻 MOV | ID+ ID-;VN+; VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ; | |
固态过压保护器 SSOVP | ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、 IH-;;IBO+ IBO-;VBO+ VBO-;VZ+ VZ- | |
压变电阻 VARISTOR | ID+; ID-;VC+ ;VC- | |
双向触发二极管 DIAC | VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-, |
1.4系统曲线测试列举
ID vs. VDS at range of VGS
ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS
HFE vs. IC
BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE(SAT) vs. IC
VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (use VBE test)
VCE(SAT) vs. IB at a range of ICVF vs. IF