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功率器件参数测试系统

功率器件参数测试系统

HUSTEC-5000是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统,本系统可自动生成功率器件的I-V曲线,也可根据客户的实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统在失效分析,IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立,***了数据的准确可靠。

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    陈先生
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  • 地   址:
    广东 深圳 宝安区 西乡流塘街道
是否进口:否产地:广东深圳加工定制:否
类型:IGBT测试仪品牌:华科智源型号:HUSTEC-5000
测量频率:50Hz测量精度:±1%适用范围:igbt mos bjt
重量:30kg尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)cmmm是否跨境货源:否

功率器件参数测试系统详细介绍

技术指标

主极参数

控制极参数

指标

标配


指标

标配


主极电压:

1mV-2000V


①控制极电压:

100mV-20V


②电压分辨率:

1mV


②电压分辨率:

1mV


主极电流

0.1nA-100A

可扩展1250A

③控制极电流:

100nA-10A


④电流分辨率:

0.1nA





⑤测试精度

0.2%+2LSB





⑥测试速度

0.5mS/参数





1.3  HUSTEC-5000测试系统是一套高速多用途半导体分立器件智能测试系统,它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,可真实准确测试下列各种大、中、小功率的半导体分立器件。

测试范围 / 测试参数

测试器件

测试参数


绝缘栅双***功率晶体管

IGBT

ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;

VGEON;VF;GFS


MOS场效应管 

MOS-FET

IDSS;IDSV;IGSSF;  IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS;

VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS


J型场效应管

J-FET

IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;

IDSS;GFS;VGSOFF


二极管

DIODE

IR;BVR ;VF


晶体管

(NPN型/PNP型)

ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO;

BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF


双向可控硅

TRIAC

VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH-


可控硅

SCR

IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;

IGT;VGT;IL;IH


硅触发可控硅

STS

IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ;

 VPK-;VGSW+;VGSW-


达林顿阵列

DARLINTON

ICBO; ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO;

BVCER;BVCEE;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ;

VCESAT; VBESAT;VBEON


光电耦合

OPTO-COUPLER

ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO;

CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode)


继电器

RELAY

RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME


稳压、齐纳二极管

ZENER

IR;BVZ;VF;ZZ


三端稳压器

REGULATOR

Vout;Iin;


光电开关

OPTO-SWITCH

ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF


光电逻辑

OPTO-LOGIC

IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF


金属氧化物压变电阻

MOV

ID+ ID-;VN+;  VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ;


固态过压保护器

SSOVP

ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、

IH-;;IBO+ IBO-;VBO+  VBO-;VZ+  VZ-


压变电阻

VARISTOR

ID+;  ID-;VC+   ;VC-


双向触发二极管

DIAC

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,


1.4系统曲线测试列举
ID vs. VDS at range of VGS            

ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD                            

RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS            

IDSS vs. VDS
HFE vs. IC                            

BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE                         

BVCBO vs. IC
VCE
(SAT) vs. IC            

VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (use VBE test)     

VCE(SAT) vs. IB at a range of ICVF vs. IF




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